DC & FUNTION TESTER - NEOS1
메모리 전제품 테스트가 가능한다. 최소...
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JH5400은 Device제품의 잠재적인 불량을 ...
Memory Burn-in 설비로 Flash Memory 특화...
SSD 연배열 제품을 UART Interface 를 이...
High Speed 실장(Mother Board Base)형 ...
Memory 제품군의 QC/QA용 Engineering용...
Open Architecture 적용으로 다양한 SOC ...
Neos3는 Core Test에서 Mid Band Test까...
Neos2는 다양한 Device에 Flexible하게 대...
BOST(Built Off Self Test)는 기존 ATE 설...